绝缘电阻测试仪使用方法

测试程序

首先确保该设备进行测试，并在工作区域是安全的，如设备DE-通电和断开，所有相关的工作许可已经批准和所有的锁/标签。

接下来，放电电容静电放电棒或红外测试仪，具有自动放电功能的设备（特别是高压设备）。

红外测试仪上的导线，然后可以连接的设备的导电部分。例如，对于三芯和接地电缆，红外测试之间施加核心（核心1的Core 2，核心1至3和核心的Core 2核心3），每个核心和大地之间。同样，对于三相电机，的电路breakrs，隔离开关等的IR测试已经可以应用上面的设备终端（与大地连接）。

请注意，施加红外测试接地时，它是很好的做法，红外测试仪的正极连接到大地，以避免在地球上的任何极化效应。

一旦连接上，红外测试仪是一个典型的测试持续时间为1分钟通电。1分钟后的红外测试测量记录。

当IR测试完成后，再次放电电容一段时间的试验持续时间的4-5倍。

测试结果的解释

红外测试的zui低值取决于设备的类型和额定电压的。他们还按照标准而有所不同。有些标准将定义zui小的红外测试值，对于一般的电气装置。

例如，对于低电压装置在IEC的世界，IEC 60364-6 [1]表6A给出了zui小的IR值和还表明试验电压，即

标称电路电压（VAC）	测试电压（Vdc）	绝缘电阻（MΩ）
特低电压	250	0.5
高达500V	500	1.0
500V以上	1,000	1.0

在ANSI / NEC世界，标准ANSI / NETA ATS-2009 [2]提供了大多数类型的电气设备的试验规程和验收水平。表100.1提供代表接受红外测试测量，这应该用在任何其他的指导的情况下（从制造商或其他准则）的值：

NFPA 70B [3]也提供了一些指导，为不同类型的设备绝缘电阻测试。

影响测试结果的因素

主要有两个因素会影响红外测试结果：

温度

   电阻具有逆指数关系随温度变化，即随着温度的升高，阻力将减少，反之亦然。由于zui小可接受的红外测试值是基于一个固定的参考温度（摄氏20 ^度），所测得的红外（IR）测试值必须被校正到参考温度，以使感。

  作为一个经验法则，每10 ^? C增加温度（反之亦然）的电阻减半。因此，如果测得的红外测试值是2M Ω在摄氏20 ^度，那么它会在30 ^? C或4M Ω 1M Ω在10 ℃。

   ANSI / NETA ATS-2009表100.14提供的修正系数，红外测试测量温度以外的20 ^? C或摄氏40 ^度，这是兆欧表自由书“小洞不补，校正因子的基础上反过来.. “。[4]。

湿度

水分的存在（或缺乏）的水分，也可以影响到红外测试测量，水分含量越高，在空气中，较低的红外测试读数。如果可能的话，不应该进行IR测试在很潮湿的环境中的露点以下。尽管目前还没有标准的校正因子或指导潮湿的条件下，这是很好的做法，使他们能够在未来的测试中用于基线比较，记录每个IR测试的相对湿度。例如，过去的数据上的红外干燥和潮湿天的测试值，会给你的基础，评估未来的测试值。